全要件原則: 請求項所述的技術特徵完全對應表現在待鑑定對象中。 申請專利範圍所有構成要件、元件間彼此的技術關聯,皆必須一一對 應在待鑑定對象中。 只要待鑑定對象的對應元件、成分、步驟或結合關係欠缺申請專利範 圍之任一技術特徵,就不構成文義讀取。 申請專利範圍所載之技術特徵係上位概念總括用語,而待鑑定對象對應者係相應的下位概念時,應判斷待鑑定對象符合「文義讀取」。 若先前技術為下位概念發明,由於其內容已隱含或建議其所揭露之技術手段可以適用於其所屬之上位概念發明,故下位概念發明之公開會使其所屬之上位概念發明不具新穎性。例如先前技術為「用銅製成的產物A」,會使申請專利之發明「用金屬製成的產物A」喪失新穎性。 原則上,上位概念發明之公開並不影響下位概念發明之新穎性。例如先前技術為「用金屬製成的產物A」,無法使申請專利之發明「用銅製成的產物A」喪失新穎性。又如先前技術揭露之「鹵素」,無法使申請專利之發明中之「氯」喪失新穎性。先前技術揭露之化合物亦無法使申請專利之發明如該化合物之光學異構物、水合物及結晶物等喪失新穎性。 基於全要件原則(all-elements rule / all-limitations rule),判斷待鑑定對象是否符合「文義讀取」。 1.若待鑑定對象符合「文義讀取」,且被告主張適用「逆均等論」(reverse doctrine of equivalents),應再比對待鑑定對象是否適用「逆均等論」。若待鑑定對象適用「逆均等論」,則應判斷待鑑定對象未落入專利權範圍。。若待鑑定對象不適用「逆均等論」,則應判斷待鑑定對象落入專利權(文義)範圍。 2.若待鑑定對象符合「文義讀取」,而被告未主張適用「逆均等論」,應判斷待鑑定對象落入專利權(文義)範圍 3.若待鑑定對象不符合「文義讀取」,應再比對待鑑定對象是否適用「均等論」(doctrine of equivalents) |