「均等論」係基於保障專利權人利益的立場，避免他人僅就其申請專利範圍之技術特徵稍作非實質之改變或替換，而規避專利侵權的責任。由於以文字精確、完整描述申請專利範圍，實有其先天上無法克服的困難，故專利權範圍得擴大至申請專利範圍之技術特徵的均等範圍，不應僅侷限於申請專利範圍之文義範圍。
均等論之成立要件，相對於申請專利範圍之技術特徵，待鑑定對象之元件、成分、步驟或其結合關係的改變或替換未產生實質差異（substantial difference）時，則適用「均等論」。適用「均等論」須先符合「全要件原則」，始有成立可能。
「均等論」之比對方式，若待鑑定對象之對應元件、成分、步驟或其結合關係與申請專利範圍之技術特徵係以實質相同的技術手段（way），達成實質相同的功能（function），而產生實質相同的結果（result）時，應判斷待鑑定對象之對應元件、成分、步驟或其結合關係與申請專利範圍之技術特徵無實質差異，適用均等論。「實質相同」係指兩者之差異為該發明所屬技術領域中具有通常知識者所能輕易完成者。例如申請專利範圍之技術特徵為Ａ、Ｂ、Ｃ，待鑑定對象之對應元件、成分、步驟或其結合關係為Ａ、Ｂ、Ｄ。假設Ｃ與Ｄ兩者不符「文義讀取」，應再判斷Ｃ與Ｄ兩者是否係「以實質相同的技術手段，達成實質相同的功能，產生實質相同的結果」，若兩者之「技術手段」、「功能」、「結果」皆為實質相同，應判斷Ｃ與Ｄ無實質差異，待鑑定對象與申請專利範圍適用「均等論」。